Teknik karakterisasi pada
nanoteknologi diperlukan untuk mengontrol morfologi, permukaan, ukuran serta
dimensi dari nanomaterial. Mikroskop optik umumnya digunakan untuk mengamati
material pada level micron atau lebih besar. Selanjutnya, perbesaran tidak lagi
dapat dapat dicapai untuk menghasilkan data yang akurat. Karenanya, teknik
imaging seperti spektrofotometri InfraRed
(IR), spektrofotometri serapan
atom (SSA), difraksi sinar-X (XRD) dikembangkan untuk mengamati material berukuran
submikro.
FT-IR
Spektrofotometri InfraRed atau Infra Merah merupakan
suatu metode yang mengamati interaksi molekul dengan radiasi elektromagnetik
yang berada pada daerah panjang gelombang 0.75 – 1.000 µm ata pada bilangan
gelombang 13.000 – 10 cm-1 dengan menggunakan suatu alat yaitu
Spektrofotometer Inframerah. Metode ini banyak digunakan pada laboraturium
analisis atau riset karena dapat memberikan informasi yang berguna untuk
analisis kualitatif dan kuantitatif, serta membantu penerapan rumus bangun
suatu senyawa.
Hal-hal yang dapat mempengaruhi jumlah serapan
maksimum secara teoritis adalah :
a.
Frekuensi
vibrasi fundamental jatuh di luar daerah 2,5 – 15 µm.
b.
Serapan
terlalu lemah untuk diamati.
c.
Beberapa
resapan sangat berdekatan hingga tampak menjadi satu.
d. Beberapa
resapan dari molekul yang sangat simetris, jatuh pada frekuensi yang sama.
e.
Vibrasi
yang terjadi tidak mengakibatkan terjadinya momen dipol dari molekul.
Spektrum inframerah
untuk suatu molekul ditampilkan dalam bentuk grafik yang menampilkan frekuensi
absorpsi radiasi inframerah dan persentase cahaya awal yang melewati molekul
tanpa diabsorpsi. Spektrum dibagi menjadi dua daerah, yaitu daerah sidik jari yang
spesifik untuk tiap molekul dan daerah gugus fungsional yang serupa untuk
seluruh molekul yang memiliki gugus fungsional yang sama.
Spektrofotometri
Serapan Atom (SSA)
Spektrofotometri
Serapan Atom (SSA) merupakan metode analisis unsur secara kuantitatif yang
pengukurannya berdasarkan penyerapan cahaya dengan panjang gelombang tertentu
oleh atom logam dalam keadaan bebas. Spektrofotometri Serapan Atom didasrkan
pada penyerapan enerdgi sinar oleh atom-atom netral dalam keadaan gas, untuk
itu diperlukan kalor/panas. Alat ini umumnya digunakan untuk analisi logam
sedangkan untuk non logam jarang sekali, mengingat unsur non logam dapat terionisasi
dengan adanya kalor, sehingga setelah dipanaskan akan sukar didapat unsur yang
terionisasi [44].
Pada
metode ini larutan sampel diubah menjadi bentuk aerosol didalam bagian
pengkabutan (nebulizer) pada alat SSA selanjutnya diubah ke dalam bentuk
atom-atomnya berupa garis didalam nyala. Spektrofotometer serapan atom (SSA)
sebetulnya adalah metode umum untuk menentukan kadar unsure logam konsentrasi
renik. Metode SSA spesifikasinya tinggi yaitu unsur-unsur dapat ditentukan
meskipun dalam campuran .
Pada
alat SSA terdapat dua bagian utama yaitu suatu sel atom yang menghasilkan
atom-atom gas bebas dalam keadaan dasarnya dan suatu sistem optik untuk
pengukuran sinyal. Skema umum alat SSA adalah sebagai berikut :
Difraksi
Sinar-X (XRD)
Sinar-X merupakan
radiasi elektromagnetik yang mirip dengan cahaya, namun dengan panjang
gelombangnya lebih pendek. Sinar-X dihasilkan ketika muatan elektrik partikel
dengan energi yang cukup. Data difraksi sinar-X dari polimer umumnya
menyediakan informasi tentang kristalinitas, ukuran kristal, orientasi kristal
dan komposisi fasa dalam polimer semi kristal. Dengan perlengkapan yang tepat,
instrumentasi difraksi sinar-X dapat digunakan untuk mempelajari perubahan fasa
seperti fungsi ketegangan atau temperatur, menentukan tegangan kisi, mengukur
modulus kristalin, dan dengan bantuan permodelan molekul dapat digunakan untuk
menentukan struktur polimer. Seperti karakteristik yang telah diuraikan, ini
merupakan teknik canggih yang juga dapat digunakan untuk mengkarakterisasi
lapisan polimer nanokomposit silikat. Polimer atau lapisan silikat nanokomposit .
Metode difraksi sinar-X dapat
digolongkan sebagai berikut :
a. Metode
kristal tunggal
Metode ini sering
digunakan untuk menentukan struktur kristal, dalam ini dipakai berbentuk
kristal tunggal.
b. Metode
serbuk (powder method)
Bahan sampel pada metode ini
dibuat berbentuk serbuk, sehingga terdiri banyak kristal yang sangat kecil dan
orientasinya tidap perlu diatur lagi karena semua orientasi bidang telah ada
dalam sampel. Dengan demikian hukum Bragg dapat dipenuhi. Metode ini lebih
cepat dan lebih sederhana dibandingkan dengan metode kristal tunggal. Metode
serbuk ini dapat digunakan untuk menganalisa bahan apa yang terkandung di dalam
suatu sampel, juga dapat ditentukan secara kuantitatif .
Artikel Terkait
Artikel ini ditulis oleh : Unknown ~ Blogger Pasuruan
Terimakasih sahabat telah membaca : Contoh Teknik Karakterisasi. Anda bisa menyebarluaskan artikel ini, Asalkan meletakkan link dibawah ini sebagai sumbernya
Tidak ada komentar:
Posting Komentar